A.Kemmeren,
J.Verhoeven, F.van den Heuvel, H.Kretschman and T.Frič, Mat. Res.
Soc. Symp. Proc. �003, 783, 157. (5) F. Roozeboom, A.L.A.M.
Kemmeren, J.F.C. Verhoeven, F.C. van den Heuvel, J. Klootwijk,
H.
Patrone, L.; Stuhr-Hansen, N.; Christensen, J. B.; Bourgoin
J.-P.; Bjørnholm, T. Nano Lett. 2005, 5 (4): 783-785.
(27) (a) Moore, A. M.; Dameron, A. A.; Mantooth, B. A.; Smith, R. K.; Fuchs, D. J.;