跳转至内容
Merck
CN

769401

氧化铪(IV)

pellets, diam. × thickness 13 mm × 5 mm

别名:

Hafnia

登录 查看组织和合同定价。

选择尺寸


关于此项目

经验公式(希尔记法):
HfO2
化学文摘社编号:
分子量:
210.49
UNSPSC Code:
12352303
NACRES:
NA.23
EC Number:
235-013-2
MDL number:
技术服务
需要帮助?我们经验丰富的科学家团队随时乐意为您服务。
让我们为您提供帮助
技术服务
需要帮助?我们经验丰富的科学家团队随时乐意为您服务。
让我们为您提供帮助

InChI key

CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N

InChI

1S/Hf.2O

SMILES string

O=[Hf]=O

form

pellets

diam. × thickness

13 mm × 5 mm

impurities

≤0.1% PBB (polybrominated biphenyls), ≤0.1% PBDE (polybrominated diphenyl ethers)

density

9.68 g/mL at 25 °C (lit.)

cation traces

Cd: ≤0.01%, Co: ≤0.0005%, Cr: ≤0.005%, Cu: ≤0.0005%, Fe: ≤0.005%, Hg: ≤0.1%, Pb: ≤0.1%, Ti: ≤0.005%, V: ≤0.005%, Zr: ≤0.5%

正在寻找类似产品? 访问 产品对比指南

Application

High dielectric constant of hafnia makes it suitable for application in metal oxide based semiconductor devices. It also finds applications as optical coating materials

存储类别

11 - Combustible Solids

wgk

nwg

flash_point_f

Not applicable

flash_point_c

Not applicable


历史批次信息供参考:

分析证书(COA)

Lot/Batch Number

没有发现合适的版本?

如果您需要特殊版本,可通过批号或批次号查找具体证书。

已有该产品?

在文件库中查找您最近购买产品的文档。

访问文档库

Dual wavelength laser-induced damage threshold measurements of alumina/silica and hafnia/silica ultraviolet antireflective coatings.
Mrohs, M., et al.
Applied Optics, 55(1), 104-109 (2016)
Recent progress in ab initio simulations of hafnia-based gate stacks
Zhu, H., et al.
J. Mater. Sci., 47(21), 7399-7416 (2012)

我们的科学家团队拥有各种研究领域经验,包括生命科学、材料科学、化学合成、色谱、分析及许多其他领域.

联系客户支持